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波前測量儀
全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡，非球面透鏡和光學系統的波前測量，集成了準直系統，擴束或縮束系統，高精度樣品臺，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測，光學系統像差檢測，輸出激光光束質量檢測，光束動態變化檢測，自適應系統波前的探測，并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前，還可給出被測樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數（Zernike），點擴散函數（PSF），調制傳遞函數，斯特列爾比，楔角。同時，該產品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測，晶體低階和高階的相差，晶體的調制傳遞函數（MTF），晶體的點擴散函數（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡單易用，用戶可根據需要進行選擇。
WaveSensor?波前傳感器
WaveSensor?系列產品是應用哈特曼—夏克傳感器的測量原理研制而成的，并配備專門的操作與分析軟件，可用于激光光束質量及其動態變化的診斷、光學系統像質的檢驗、介質擾動對光束質量影響的測量、大型球面鏡鏡面面形精度的檢測等。利用WaveSensor?可獲得豐富的光束質量及空間、時間信息，是深入研究激光光束和光學系統質量及其動態變化過程、分析影響因素的有力手段，因此WaveSensor?已成為檢測各類大型反射鏡面形的一種專用設備。
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WaveMaster? COMPACT緊湊型波前測量儀
WaveMaster? COMPACT系列產品可以簡單快速的完成對球面或非球面鏡片波前質量的檢測，并運用澤尼克多項式實時分析波前數據，在生產和研發上都有著廣泛應用。WaveMaster? COMPACT2 Universal是專業級的波前測量儀，集成了WaveMaster? COMPACT2和WaveMaster? COMPACT2 Reflex所有功能。
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應用范圍： |
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WaveMaster? LAB Horizontal大口徑研發型波前測量儀
WaveMaster? LAB Horizontal是一款非常適合在實驗室里應用的儀器。它作為一個實驗裝置臺，使用靈活，可使不同的光學結構放置在同一水平方向測量。它可提供透射式無限軛或有限軛模式進行測量，適用于口徑較大的樣品。
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應用范圍： |
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WaveMaster?PRO 2 量產型波前測量儀
WaveMaster? PRO系列產品是為了適應波前質量的大批量檢測的需求而研發的兩款儀器，可自行設置合格標準，并根據該標準自動判定合格和不合格。WaveMaster? PRO 2和WaveMaster? PRO 2 reflex配備托盤系統，實現對單個小鏡片的大批量檢測。WaveMaster? PRO Wafer則可以對晶圓級鏡頭的波前進行快速檢測。
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應用范圍： |
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WaveMaster? Smartgage小型表面面型檢測儀
WaveMaster? Smartgage是一臺檢測小型球面或平面鏡片表面輪廓的非常理想的工具。它結構小巧，便于在生產車間放置。WaveMaster? Smartgage采用先進的哈特曼一夏克技術，只需一秒鐘即可判定產品是否合格，使高品質的現場管理成為可能。
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使用范圍： |
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WaveMaster? Field全視場型波前測量儀
對于大視場鏡頭來說，軸外視場的高質量成像是關鍵。在這里，僅僅在軸上進行波前測量通常是不夠的 ，因為沒有考慮到高視場角。因此，德國全歐光學（TRIOPTICS）提供了一個解決方案來覆蓋這個應用——WaveMaster? Field。
WaveMaster? Field為研發所設計，該系統既可以在±60°范圍內對整個視場內的樣品進行全面測量，又可以進行后續的深入分析。只需幾個步驟就可以對入射角和波長進行靈活調整，以模擬不斷變化的照明條件，同樣也易于適用不同的樣品。
此外，離軸測量增加了對透鏡定心的靈敏度，從而可以更精確地優化透鏡對所需波前的定位。
WaveMaster? Field為研發所設計，該系統既可以在±60°范圍內對整個視場內的樣品進行全面測量，又可以進行后續的深入分析。只需幾個步驟就可以對入射角和波長進行靈活調整，以模擬不斷變化的照明條件，同樣也易于適用不同的樣品。
此外，離軸測量增加了對透鏡定心的靈敏度，從而可以更精確地優化透鏡對所需波前的定位。
| 產品特點 | 測量參數 |
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WaveMaster? UST全自動雙遠心波前測量儀
WaveMaster?UST是一款集成了夏克-哈特曼精密波前測量技術以及德國全歐光學（TRIOPTICS）專業復雜測量系統的制造的經驗，可用于對雙遠心鏡頭多個波長整個視場的波前測量。
| 產品特點 |
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WaveMaster? PLAN平面元件波前測量儀
WaveMaster? PLAN適用于使用夏克哈特曼傳感器的波前分析對平面進行質量檢查。
| 產品特點 |
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WaveMaster? IOL 2人工晶體波前測量儀
WaveMaster? IOL 2是一款基于波前測量，可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發，也可用于的生產，主要測量屈光度，像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環境中測量，也可實現對環曲面人工晶體的MTF測量。
| 應用范圍 |
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